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Microscope à force atomique à nanofils

Des chercheurs de l'Université de Bâle développent une nouvelle utilisation des nanofils, en tant que composante essentielle d'un nouveau microscope à force atomique (AFM, Atomic Force Microscope).
 
Cette nouvelle approche utilise un nanofil vibrant comme capteur et mesure les changements de la vibration dans chacune des deux dimensions, c'est à dire une dimension supplémentaire par rapport à un AFM traditionnel. Les nanofils sont des fils d'environ 100 nanomètres d'épaisseur regroupés dans une molécule à la fois.
 
Plus d’infos : https://www.unibas.ch/en/News-Events/News/Uni-Research/Nanowires-as-Sensors-in-New-Type-of-Atomic-Force-Microscope.html
 
Contact WBI :
Vassil KOLAROV – Agent de liaison scientifique WBI pour la Suisse – v.kolarov@wbi.be